Prober
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平台。 支援常高溫測試。 即時產生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。
|
懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴展 |
| 型號 | Prober |
| 產品介紹 |
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 |
| 功能 |
? 全自動CCD視覺對針定位。 ? 高精度定位平台。 ? 支援常高溫測試。 ? 即時產生Mapping顯示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。 |
Recommend推荐产品
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
info@www.ettedu.cn |
佛山市联动科技股份有限公司 版权所有 www.ettedu.cn ? 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1
